Opticline Cシリーズシャフト測定システムは1μmから最大のゲージ再現性と再生性を実現可能。高精度C軸やマルチセンサーシステム等の様々な構成でパフォーマンス機能を皆様の要件に合わせたカスタマイズが可能。従って機器は最高レベルの柔軟性、精度、安定性をお届けする。
システムの性能
- 僅か数秒間で測定できるμm単位の最適な精度特性
- 個々のカメラは最大80mmのワーク径の双方向測定が可能
- 解像度や品質を損なう事なく最大140mmの直径の測定が可能な光学システムスケーリング
- 迅速なワーク交換と最高精度のための特別なテールストックとヘッドストックの設計
- シンプルで自動化されたワークの位置合わせ
- リアルタイム処理と可能な限り最速のデータ転送
- 確実生産のための自己監視機能
- IP52保護付きカメラとローメンテナンスの堅牢な測定システム
製品の種類とオプション
- 追加長を測定しテスト特性形成のための触覚プロービングシステムT3DまたはTSP
- フォームゲージの再現性と再生性を高める回転測定改善のための高精度ヘッドストック
- 統合された測定および評価用コンピュータ
- 環境への悪影響保護のためのローラーシャッター
- 柔軟性とワークピース多様性を高める空気圧クランプソリューション
- 作業高低位置における実用的な積載と追加保管スペース用のテーブルラック
Article by: PTSC & MEGA Tech
Reference: http://ptsc.co.th/